二手 NANOMETRICS NanoSpec AFT 210 #9197546 待售

NANOMETRICS NanoSpec AFT 210是一款先进高效的掩模和晶圆检测设备。它是一个半自动系统，旨在识别和管理薄膜、图桉化面膜和光刻晶片中的缺陷。AFT 210使用先进的图像处理和分析算法来检测屏蔽和晶片上关键可检查特征的任何异常或缺陷。可以详细检查诸如线宽、临界尺寸、缺陷标准和特征组成等特征。该单元配备了CCD摄像头、明亮的对比光，以及专有的成像软件，能够获得准确可靠的结果。这台机器的设计是根据需要进行一些不同的检查。自动化特征和缺陷检测、目测、面膜边缘对称分析、面部平整度测量均得到支持。检验结果以用户友好的报告格式自动编译，因此客户可以根据自己的质量控制标准轻松审核和量化结果。除了自动化检查过程外，AFT 210还提供了强大的提取工具，以帮助分析结果。这包括蒙太奇比较、晶圆图样特征评估和数据分析工具。X-Y绘图、参数化分析和统计摘要等工具提供了有关所检查功能的详细信息,允许用户对设备的性能做出明智的决策,并制定适当的纠正措施计划。该工具具有适应客户特定需求的可扩展性。高级自动化和资产互连可以根据不同的要求进行定制。AFT 210型号能够容纳各种薄膜、蒙版和光刻晶片,包括所有主要的CMOSb和前沿技术。它还配备了自动化连接支持,从而能够与其他外围设备系统实现更大的互操作性。最后,AFT 210具有严格的行业认证和符合国际标准的设计,确保了最佳功能和性能。其坚固的构造和先进的技术使其成为大批量生产制造生产线和研发实验室的理想选择。