二手 NANOMETRICS NanoSpec AFT 210 #9284966 待售

NANOMETRICS NanoSpec AFT 210是为半导体工业设计的掩模和晶圆检测设备。它是一个自动化系统，提供晶圆级缺陷的完整覆盖和分析，包括外来和本地粒子缺陷。它能够探测和测量各种尺寸的粒子，直至纳米级。凭借其高速成像能力，NanoSpec可以在晶圆级提供粒子和缺陷的快速分析。该单元由自动掩模检测模块、晶圆检测模块和高速成像机组成。自动掩模检查模块配备激光扫描仪，可精确扫描掩模边缘周围，实时检测缺陷和颗粒。这是配对的光谱成像技术，能够检测和测量不同大小和类型的粒子。晶圆检测模块用于检测晶圆级的缺陷。它可以检测不同大小、形状和性质不同的材料的粒子。它还有一个高分辨率的成像工具，提供精确和详细的粒子和缺陷的图像。资产还有一个高速成像（HSI）模块，能够以高达每秒1,000帧的速率捕获和分析粒子图像。这提供了更高分辨率的粒子和缺陷图像，然后对这些图像进行分析以寻找潜在的纠正措施。NanoSpec还附带了一个数据分析套件,用于分析检测到的粒子和缺陷,并生成全面的报告。该套件包括一份统计和目视检查报告，以及有助于进一步检查和分析的详细图像。此外,NanoSpec还具有直观的用户界面,工程师可以轻松访问和配置其众多功能和选项。此外,它是一个可扩展的模型,可以根据需要轻松更新新的特性和功能。NANOMETRICS NANOSPEC/AFT 210是一种先进的掩模和晶圆检测设备，为半导体生产设施提供了完整的覆盖范围。NanoSpec AFT 210具有高速成像能力、广泛的粒度检测和直观的用户界面,是半导体掩模和晶圆检测的理想选择。