二手 NANOMETRICS NanoSpec AFT 2100 #96637 待售

NANOMETRICS NanoSpec AFT 2100是一种综合性的掩模和晶圆检测设备。利用先进的扫描成像技术，该系统能够检测半导体制造过程中使用的掩模和晶片的微小缺陷。该单位还提供自动缺陷分类，为检查人员快速准确地识别大量设备中的缺陷提供了系统的程序。AFT 2100利用可见光检测和分析掩模和晶片中的微观缺陷。它具有高度灵敏的光头和更明亮的入射光源，能够准确地表示复杂的拓扑，并能够进行高速检查。机器还结合了光谱分析，使其能够检测到各种缺陷中光谱反射率的微小差异，如空隙、污染物和裂纹。AFT 2100配备了最先进的图像处理算法和用户友好的图像分析工具，能够快速识别缺陷。它可以自动对个别缺陷进行分类，并确定其临界性。该工具具有识别系统缺陷的内置完整性计算器。它还提供了自动化的产量总结和分析，使其更容易分析大产量的晶圆和掩模。AFT 2100还包括高效的缺陷消除资产。该模型帮助检查员减少缺陷,使他们能够快速准确地识别和消除缺陷,从而提高制造的晶片和口罩的整体质量。此外，该设备能够快速平均测试晶片的图像，减少检查和分析的总时间。AFT 2100是可靠、用途广泛的掩模和晶圆检测系统；提供准确、快速和易用性。它为检查员提供了一个高效、有效和经济高效的解决方桉，用于识别和消除口罩和晶片中的缺陷。它结合了深度成像分辨率、光谱分析、缺陷识别、分类和完整性计算器，成为半导体制造商的宝贵工具。