二手 NANOMETRICS NanoSpec AFT 3000 #293718588 待售
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ID: 293718588
优质的: 1999
Film thickness measurement system
M/N: 7200-2134 Rev P7
Stage: Dual platform, 3"/4"
Objectives: 5x, 10x
PC
Processor: Pentium III 733 MHz
Maxtor Hard Disk Drive (HDD), 41 GB
RAM, 262144 K
Keyboard
Mouse
Operating system: Windows 98
TRUSTPRO Lamp: + 12 VDC
1999 vintage.
NANOMETRICS NanoSpec AFT 3000是为光电计量应用而设计的自动化全晶圆检测设备。在其功能中,AFT3000提供了一套全面的光学和电气计量功能。这包括全晶片和模具级成像、自动缺陷识别以及各种分析,包括电气分析和碟形分析。该AFT3000采用模块化、可配置的整个晶片系统,用于故障检测、缺陷定位和测试评估。该单元构建在一个健壮的4轴运动平台上,可通过高分辨率成像、专有缺陷分析和自动光学分析对大样本区域进行精确扫描。该机可与几个光学和成像平台结合使用,允许快速准确的故障检测和分析。使用高分辨率扫描功能,AFT3000可以检测和识别细微的缺陷,例如打开和缩短、变薄、粗糙度、间隔和形状错误。该工具也是高效的,能够快速准确地检测缺陷,通过减去模模图像,识别缺陷到亚微米级。此外,缺陷表征和本地化功能使AFT3000能够识别缺陷的位置和大小,从而简化其QC和故障分析功能。该AFT3000还支持广泛的电气测量,例如电气参数分析。此功能允许用户在没有热负载的情况下检查模具的电气特性,以确保高可靠性的产品性能。此外,该AFT3000可用于碟形分析,这是MEMS结构确保模模均匀性的一个重要因素。最后,NanoSpec AFT 3000是为光电计量应用设计的自动化全晶圆检测资产。它提供了一整套光学和电气计量功能,包括全晶圆和模具级成像、自动缺陷识别、电气分析和碟形参数计算。该模型能够准确、高效地检测和分析故障,能够快速分析和诊断缺陷,从而提高质量控制和故障分析能力。
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