二手 NANOMETRICS NanoSpec AFT 4150 #9057372 待售

NANOMETRICS NanoSpec AFT 4150是一种精密的掩模和晶圆检测设备。该系统旨在为半导体尺寸特征提供纳米精度的高质量成像。该装置的创新使得各种掩模和晶圆类型的大小特征都能实现亚微米分辨率。AFT 4150采用了获得专利的AutoFocus技术-AFT,它显着提高了机器的分辨率和可重复性。物镜的自动控制确保即使是更薄的晶片在整个扫描过程中保持完美的焦点。这样可以在更短的周期时间内实现更高分辨率的成像。AFT 4150借鉴了NANOMETRICS先进的光刻成像专业知识,将完美扫描技术作为一种多级扫描工具。Perfect Scan Technology使用精确的多级扫描算法来识别和扫描每个图像位置分辨率最高（低于1.5nm）的特征。扫描算法采用专利图像处理算法，快速识别特征，高效准确扫描。AFT 4150的五轴XY-theta级和压电驱动扫描头提供3-D成像和亚微米对准精度，以纳米分辨率隔离缺陷和检测边缘。通过物镜采集空中图像。此映像提供了缺陷本地化和缺陷审阅所需的确切需求。NANOMETRICS NANOSPEC/AFT 4150的隔离湿点/干点检测通过识别缺陷的确切特征、精确位置和形态,为更好地检测缺陷铺平了道路。增强的图像分析和先进的缺陷检测功能可以识别最小的缺陷。该资产是为快速运行和低维护而设计的。NANOMETRICS获得专利的图像强度建模技术准确地模拟了图像强度，用于缺陷的自动识别和分类。AFT 4150可用于检查多种面膜和晶片类型，包括MEMS、硅和陶瓷基板。模型可以直接处理广泛的通用图像格式,包括BMP、PPM和TIFF。AFT 4150具有很高的可扩展性,可以轻松升级以处理更高分辨率的较大区域。该设备还采用高度可调的工作站、大型液晶显示屏和软触摸控件，为操作员提供最大舒适度的设计。NanoSpec AFT 4150是用于掩模和晶圆检验的完美工具。其高度先进的图像分析和自动缺陷检测可确保在一系列基板上实现最高质量的成像,并具有亚微米精度。强大的系统设计和直观的用户界面使其成为生产实验室和研究设施的理想选择。