二手 NANOMETRICS NanoSpec AFT #9397749 待售

NANOMETRICS NanoSpec AFT是一种先进的光学检查设备（OIS），专门设计用于测量半导体掩模和晶圆的关键参数。NANOMETRICS NANOSPEC/AFT使用非接触成像系统快速准确地检测半导体表面的缺陷和非均匀性。直接图像传感器成像配置可提高分辨率和灵敏度,从而实现快速准确的故障检测。柔性和模块化单元由多种元件组成，包括高分辨率镜头、电动XY扫描级和用于亚微米运动能力的微操纵器。该机器还结合了先进的光学器件和自动聚焦，以确保测量的最大统一性和准确性。NanoSpec AFT的软件控制的人体工程学工作站具有直观的用户友好操作以及广泛的分析和缺陷检测功能。可以配置NANOSPEC/AFT工具以满足任何特定应用程序的需求。资产能够执行广泛的测量,包括粒度、层厚度、界面位置、蚀刻速率和均匀性以及表面缺陷检测。适用于各种半导体材料，模型能够检查任何尺寸或形状的面罩或晶片的直径达200毫米。坚固而精确的NANOMETRICS NanoSpec AFT提供高精度和可靠的测量精度,使用户能够获得有关半导体工艺关键领域的宝贵见解。设备的可靠和准确的测量使其成为检测制造异常并将其风险降至最低的极具吸引力的选择。用户友好的软件和易于跟踪的设置过程可实现快速可靠的性能,从而改进了过程控制,从而节省了时间和金钱。NANOMETRICS NANOSPEC/AFT系统的低成本、可配置性和多功能性使其成为寻求降低产量损失的芯片制造商的绝佳选择。该单元能够处理范围广泛的半导体设计和材料，可以很容易地进行调整，以满足特定的应用要求。机器的灵活性和可配置性也使其成为芯片制造商的理想选择，他们要求在生产线中实现最大程度的控制和精度。