二手 NANOMETRICS Nanospec ATF210 #9170904 待售

NANOMETRICS Nanospec ATF210是专为高性能半导体制造而设计的下一代掩模和晶圆检测系统。具体来说，ATF210是建立在扫描电子显微镜（SEM），这使得高细节成像。这些信息为半导体制造商提供了在制造过程中确定制造问题或工艺相关缺陷所需的数据。该ATF210配备了独特的可变压力级，具有缩小扫描到晶圆距离的能力，从而允许最小电子束失真。这种可变压力级技术在其他非纳米计量掩模和晶圆检测系统中没有特色。特殊的可变压力级还提供了尽可能高的图像清晰度和尺寸精度。Nanospec ATF210具有多种成像技术,能够准确、详细地查看布局模式、微掩码和光掩码。而且，ATF210能够区分晶圆堆栈内的各种材料层；这一宝贵的能力密切支持半导体器件层在制造过程中的开发和优化。NANOMETRICS Nanospec ATF210还拥有业界最高分辨率的成像技术。SEM支持的高放大倍率设置允许ATF210以前所未有的详细程度捕获图像。图像分辨率的提高使得标本的最佳特征得以捕捉，而不会扭曲标本本身的结构。Nanospec ATF210的设计尽可能方便用户。它具有直观的图形用户界面，允许用户快速熟悉系统功能和功能。此外，ATF210还配备了自动聚焦功能，这有助于减少设置和准备显微镜所需的时间。NANOMETRICS Nanospec ATF210也因其鲁棒性和速度而符合大量生产要求。总体而言,Nanospec ATF210是任何半导体制造环境下的绝佳掩模和晶圆检测系统.其强大的功能集和优化的扫描功能旨在为最复杂的布局模式、微掩码和光掩码提供可靠和准确的成像。此外,NANOMETRICS Nanospec ATF210具有直观的用户界面,使其用户友好且分辨率最高的成像功能使系统具有确保最佳制造过程所需的多功能性。