二手 NANOMETRICS NanoSpec II #293816399 待售

NANOMETRICS NanoSpec II
ID: 293816399
Thickness measurement system.
NANOMETRICS NanoSpec II是一种掩模和晶圆检验设备。它允许对半导体掩模和晶片进行快速、准确和可靠的检查。该系统利用先进的技术,包括先进的光学和高速探测器,对掩模和晶片上的特征进行成像,从而能够检测任何缺陷或不符合要求的情况。该单元还提供广泛的自动化分期和处理,这使得它极其高效和经济高效。NanoSpec II可以处理各种各样的半导体掩模尺寸,视野高达400mm x 400mm。它既适用于全场图像捕获,也适用于感兴趣的区域成像。该机器能够对晶片表面进行同步、实时的检测,能够快速、可靠地检测到17nm以下的缺陷。该工具还可以精确测量矩形、圆和多边形的几何形状和大小,以及验证从文本到3D图像的所有类型的阵列。资产还包括先进的自动化分期和处理,从而能够进行极具效率和成本效益的检查。这包括一个高速晶片处理程序,可以快速精确地将晶片移动到检测站,以及自动掩码处理以进行高效的掩码检查。NANOMETRICS NanoSpec II是任何半导体制造商都非常宝贵的工具。它提供了准确可靠的掩模和晶片检查,并提供了一种高效且经济高效的检测缺陷的方法。凭借其先进的光学、自动分级和操控以及高速探测器,它是任何半导体测试或检查应用的完美工具。
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