二手 NANOMETRICS Sipher #293807094 待售

NANOMETRICS Sipher是一种掩模和晶片检测设备,旨在为要求最苛刻的生产环境提供改进的晶片缺陷检测和分类。它是一个全自动、高性能、高通量的系统，能够检查掩模和晶片上的物理缺陷，从粗糙的缺陷到细小的模式缺陷。它利用电子束成像提供了清晰、详细的缺陷微观视图。Sipher提供了一系列功能,使其与其他检查系统区分开来。其电子束成像（EBI）技术提供了卓越的缺陷级灵敏度和最佳对比度（CNR）。EBI通过调整其光束光斑大小、电流、加速度电压和每个缺陷大小的暴露剂量来实现此目的。这可以通过揭示更多的缺陷以及更可重复和更好的检测模式来优化产量分析。该单元还提供精确的阵列直径控制功能,从而能够更准确地检测缺陷并进行特征描述。再者，NANOMETRICS Sipher配备了强大的缺陷显示和分类引擎。该引擎支持自动缺陷分类,并提供快速有效的根本原因分析所需的信息。该机专为自主操作而设计，具有自动缺陷分类、分类、维修分析等功能。Sipher可轻松集成到现有基础架构中,使用户无需更改或添加设备即可利用其高吞吐量功能。此功能可帮助晶圆厂提高生产产量并降低成本。NANOMETRICS Sipher还具有增强的过程中审阅功能,允许用户在最短检查时间内做出更快的掩码缺陷决策。此外，它的Sipher-Adaptive Dynamic Imager算法允许用户根据自己的特定检查任务调整成像器设置，从而获得最大的缺陷可见性和可靠的缺陷检测与分类。总体而言，NANOMETRICS Sipher是一种功能强大且可靠的工具，能对掩模、晶片和基板上的缺陷进行卓越的检测和分类。其高性能、自动化的检查功能提供了最大的准确性、吞吐量和可扩展性。这些特性使Sipher成为晶圆厂质量保证和缺陷分类的理想选择，确保了最具挑战性的生产环境下的最大产量和产量。