二手 NAPSON NC-3000F #9085605 待售

NAPSON NC-3000F是一种设计用于微电子和半导体行业的高度先进和可靠的掩模和晶圆检测设备。该系统配备了场发射扫描电子显微镜（FESEM）或普通成像选项,以便提供可用的最高分辨率成像。NC-3000F的最大分辨率可达2 µm,扫描精度可达到0.1µm线/空间,这意味着它能够检查极小的特征和掩蔽要求。配备了多种可调参数，有助于优化检测过程，确保卓越的图像质量。除了具有高分辨率成像能力外，NAPSON NC-3000F还拥有一个强大的自动晶圆检测装置，能够精确获取高达1000晶圆每秒的自动对焦图像。该机器采用专有的Brightfield Inspection技术,可轻松识别因划痕、污染、光刻不完整或其他问题而产生的屈服缺陷。NC-3000F的直观特点使其成为极具挑战性和苛刻的微电子成像应用的理想选择。它配备了多重掩模对准、白光干涉校正等多种自动功能，以及其他先进的图像分析选项。此外，该工具还配备了高精度级，以促进精确和可重复的晶圆对准。总之，NAPSON NC-3000F掩模和晶圆检测资产是高精度成像应用的理想工具。其先进的成像功能、自动化的图像采集和直观的功能使其成为一个强大的模型,可提供高精度和可重复性。