二手 NAPSON PN-50α #9301380 待售

製造商
NAPSON
模型
PN-50α
ID: 9301380
Wafer inspection system.
NAPSON PN-50α掩模和晶圆检测设备为半导体行业的检测提供了全面的能力。通过快速的多层检查功能,PN-50α提高了工作效率并节省了成本。该系统使用户能够执行各种电路检查,包括掩模和晶片缺陷分析,以确保产品的质量和可靠性。NAPSON PN-50α单元包括一个高性能检测引擎,该引擎针对基于掩模和晶圆的应用进行了优化。这样可以更快、更准确地检查层级和晶片。多层检查功能允许用户轻松进行散焦、污染和工艺表征检查。此外,它还支持各种缺陷图像生成和表征,以及灵活的检查参数。除了坚固的检测引擎外,该机还拥有广泛的先进视觉技术。这些技术包括缺陷提取(Defect Extraction),它使用图像增强算法来增强和提高缺陷检测的准确性。边缘处理和设备表征模块允许检测电路边缘和表征模式以提高精度。该工具还包括一个复杂的模式识别模块,用于更深入地分析电路模式。PN-50α资产还包括许多易于操作的用户友好工具。这些工具包括用于快速访问检查参数的交互式图形用户界面(GUI)、用于分析数据的一套工具以及集成的任务自动化工具。该模型还提供了强大的报告功能,使用户能够快速生成报告,以便于查看和控制。NAPSON PN-50α的设计符合半导体行业的最高质量标准。除了快速的检查能力和先进的视觉技术,设备还提供了广泛的安全特性,包括安全和防篡改的设计。此外,该系统的设计便于维护和升级,可长期节省成本。
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