二手 NAPSON RT-70 #9156821 待售

NAPSON RT-70是一种先进的掩模和晶圆检测设备，设计用于检查IC设计和生产中的关键参数。它为晶片碰撞、对准、光刻、计量和缺陷检测提供了高精度、高速度和重复性。该系统集成了具有高速扫描头和Corvis-7软件平台的高度先进的光学传感器。光学传感器通过全场光谱和线扫描等多种技术记录和解释实时数据，并提供晶圆地形、线和间距以及缺陷的测量。高速扫描头具有广阔的视野和高分辨率，能够对IC进行快速的现场检查，并显着减少总缺陷审查时间。Corvis-7软件平台通过直观的图形界面提供面向用户的检查过程自动化,从而可以轻松捕获图像、分析数据和导出数据。该软件还可以定制所有级别的计量参数,以适应客户的需求。RT-70单元的设计符合半导体工业对速度、精度和可重复性的要求。凭借其庞大的晶片处理能力，机器可以同时检查多达12个晶片，最多8个焦点。这样可以确保彻底检查所有颠簸、触点、线条和特征。该工具的掩码对齐功能也非常精确和可重复,提供了比45 nm以下的覆盖性能更好的性能。该资产是为洁净室环境设计的，符合各种国际标准，包括SEMI和MIL-STD的标准。此外，NAPSON RT-70模型与各种行业标准的检验软件包兼容，从而能够快速集成到现有的晶圆处理系统中。RT-70设备是高精度和可重复的掩模和晶片检查应用的理想解决方桉。它结合了高精度和高速的扫描头技术、全场光谱和直观的GUI，用于数据捕获、分析和导出。NAPSON RT-70系统具有直观的图形界面和半导体级特点，是满足半导体制造和检测需求的理想选择。