二手 NEONTECH NTM-60A #9144069 待售

NEONTECH NTM-60A是为半导体工业设计的掩模和晶圆检测设备。它能够对薄膜面膜层和晶片蚀刻图样进行高精度、高速度的检测和分析。它具有光谱范围为220-1700nm和75 µm像素大小的10倍光学成像系统以及用于区分材料和物体的灵敏点扩展函数（PSF）单元。通过170 mm的宽视场和变焦能力使机器的高速检测成为可能。其全分辨率的帧速率从50 fps到100 fps不等,具体取决于视图区域。该工具使用高级算法进行自动缺陷检测和报告,并使用智能屏幕显示,允许单独查看每个图像帧、添加注释和注释或调整设置。NTM-60A测量面罩和晶圆检查模式中的各种参数。这些参数包括平均对比度、峰值对比度、标准差、噪声、噪声信号比和模煳指数。它还可以测量与曲面相关的参数,如边对边平面度、边缘半径、步长和密度以及厚度。资产的交互式用户界面使其易于设置和操作。它具有自动采集和选择图像的能力，可以选择最佳图像进行分析。可以根据不断变化的要求修改分析参数。NEONTECH NTM-60A还配备了多种自动化工具,可帮助分析热点、对齐错误和掩码质量。这些工具能够精确调整各种参数并减少分析所需的时间。NTM-60A也适用于口罩修复和故障分析。它的多区比较和趋势分析可以检测到从线宽变化到光刻过蚀刻或光掩模对准错误等问题。它还实现了快速可视化,并可以并排比较图像以检查过程中的蒙版。NEONTECH NTM-60A的设计使掩模和晶片的检测变得快速和容易，并且在一系列半导体应用中提供了可靠和准确的结果。它提高了生产效率和产量，加快了发现和解决掩模缺陷和缺陷的过程。