二手 NIDEC TOSOK TWi-5000 #9280887 待售

NIDEC TOSOK TWi-5000是一种用于检查半导体晶片和掩模缺陷和缺陷的掩模和晶片检查设备。TWi-5000系统配备了光学显微镜、红外和紫外显微镜、自动晶圆对准、亚微米分辨率、自动缺陷检测分类、3D地图生成、专业缺陷分析等方面的最新进展。该单元由高精度、高分辨率的投影显微镜组成，能够以高达50毫米的视野检查晶片和掩模。其特殊的光学设计使其能够以突出的清晰度访问缺陷和缺陷。NIDEC TOSOK TWi-5000机器能够检测小到0.1微米大小的缺陷。它还可以对缺陷的类型和性质进行分类，能够使用复杂的图像分析算法自动识别潜在缺陷。它还配备了自动晶片对准功能，使其能够快速扫描晶片表面以获得高分辨率图像。这样可以更快地进行检查和缺陷分析。TWi-5000还具有3D地图生成功能,可创建晶圆曲面的数字三维模型。这对于缺陷标记和分类以及与多个晶片的比较都很有价值。最后，NIDEC TOSOK TWi-5000包括专业缺陷分析（PDA）软件套件，设计用于缺陷表征和验证。这套直观的软件套件包括寿命统计、缺陷与多个晶圆的比较，还可以生成认证和合规性的报告。总之,TWi-5000是一种先进的掩模和晶片检测工具,它提供了光学显微镜、自动晶片对准、亚微米分辨率、自动缺陷检测和分类、3D地图生成以及专业缺陷分析等方面的最新技术。它能够高精度检测小缺陷，成为半导体制造和检验过程中的宝贵工具。