二手 NIHON DENSAN TWi-5000 #9293547 待售

NIHON DENSAN TWi-5000是一种先进的掩模和晶片检查设备，设计用于对图样晶片、掩模和光掩模基板进行可靠和准确的光学检查。该系统专门设计用于对半导体制造过程中产生的产品缺陷进行自动分析、检测和校正。TWi-5000装置配备了一系列先进的光学检测方法和控制系统。这台机器建立在一个高精度的运动控制台上,允许自动扫描在大视野范围内每秒生成多达144张图像,从而可以进行精确和快速的检查。NIHON DENSAN TWi-5000利用高效的深度学习技术分析半导体器件和光掩模中的缺陷模式。通过这些预测，可以对缺陷进行进一步的分析，为模式指定等级。这将向用户提供反馈,以帮助围绕产品质量进行有效的评估、决策和改进策略。该工具包括一个晶片胶片结帐资产，允许用户通过一次曝光或一次全面积图像检查整个晶片的质量。此模型配备了一个自动化过程,用于测量和评估缺陷的大小、类型和数量等特性,以及检查数据差异。这种设备还需要用户通过其自动化过程提供最少的输入。TWi-5000增强了缺陷分析功能,为用户提供了快速识别和分析微光刻和IC制造中缺陷的能力。该系统配备了先进的统计分析软件，能够检测和分析各种缺陷模式，如：大坑隔离颗粒和划痕划痕以及打印缺陷填充模式错误和错位。该单元还支持集成模式匹配分析，可用于将掩码模式与理想模式进行比较。这提供了一种有效的方法来识别和分析设备中模式的任何类型的不匹配或不对齐。NIHON DENSAN TWi-5000具有先进和精密的功能,可提供全面的掩模和晶圆检测过程,从而高效生产半导体器件和集成电路。这台机器能够减少错误和缺陷,从而提高产品质量和节省成本。