二手 NIKON AMI-3300 #293600872 待售

NIKON AMI-3300是一种用于光学显微镜的掩模和晶片检查设备.它为半导体基板上的临界高分辨率图样的无损成像提供了一种用途广泛、可靠的工具，如掩模、晶片和标线。AMI-3300具有直径为120毫米的大视场（FOV）,能够对样品中的许多小缺陷进行检测和分析。该系统还配有高分辨率数码相机和可变放大镜头。这些特性能够检查和分析尺寸从10微米到6微米不等的模式。NIKON AMI-3300配备了多种成像和分析软件，包括接触模式、成像优化工具和定量分析套件。接触模式用于获取API表面上感兴趣区域的图像,并使用图像优化工具调整每个图像的焦点和对比度,以突出显示任何缺陷。定量分析套件提供了特征大小和面积的精确测量，以改善缺陷检测。AMI-3300具有直观的用户界面,设计为用户友好。此单元易于操作和导航,有助于最小化掩码和晶圆检查所需的时间。此外,计算机还支持手动或自动操作,可定制的命令包括校准、成像和数据导出。为确保图像和分析结果一致,NIKON AMI-3300可以配置多个光源,包括白光源、紫外线光源和斜角光源。该工具具有一个能够快速高效扫描大面积样品的电动级。此外，一个缝合图像输出使得它可以很容易地查看整个样品，而无需移动样品本身。为了进一步控制资产和广泛的功能,AMI-3300可以与第三方软件集成,例如缺陷映射、源级别检查和故障分析。该模型还提供板载计算，以及数据分析和可视化。总之，NIKON AMI-3300是一种可靠、方便用户的检测设备，是光学显微镜和多种制造工艺质量控制的理想选择。该系统具有直观的用户界面、可变放大镜头、电动舞台和多个光源，能够精确检测错综复杂的图桉中的小缺陷。再者，该单元可以与第三方软件集成，支持数据分析和可视化，提供对样本妆容的详细洞察。