二手 NIKON Optistation III #293629231 待售

NIKON Optistation III是一件设计用于半导体工业的高端掩模和晶圆检测设备。它为掩模和晶片检查提供了一套全面的测量和分析能力，能够以每小时250个晶片的速度运行。它具有全自动设备,包括高速扫描仪、图像处理器、图像分析仪和高精度计量站。该系统提供了完整的过程控制单元，包括高精度的迭加和晶圆测量机、全自动缺陷分析和报告系统。NIKON OPTISTATION-III基于高级光学成像工具，具有高分辨率CCD传感器和变焦镜头资产。CCD传感器能够在不到一秒的时间内捕获掩模或晶片的微观图像。变焦镜头模型允许对小至5 μ m的特征进行精确分析，从而能够检测到非常小的缺陷。Optistation III还包括允许对掩模和晶圆图像进行自动分析和分类的软件。OPTISTATION-III还提供了高精度的迭加和晶圆测量设备。该系统可以在检查后精确测量掩模和晶片上的图样，从而能够检测可能发生的任何位置和尺寸变化。此外，该单元还配备了先进的计量软件，可以对测量的模式进行精确的三维分析。该软件还提供了一套全面的报告工具，用于分析和比较检查结果。NIKON Optistation III还提供自动缺陷分析功能。此功能自动检查掩码和晶片是否存在各种类型的缺陷,然后可以提供有关它们的详细信息。机器还包括各种手动分析功能，包括手动测量、手动缺陷分类和关键缺陷审查。总之，NIKON OPTISTATION-III为半导体行业的用户提供了一套全面的功能。通过详细的分析和报告,可以快速准确地检查口罩和晶片。该工具还包括高精度的迭加和晶圆测量资产、自动缺陷分析和手动分析功能。所有这些特性都有助于确保高质量的检验，使Optistation III成为掩模和晶圆检验的理想选择。