二手 NIKON Optistation VII #293634722 待售

ID: 293634722
晶圆大小: 12"
Wafer inspection system, 12".
NIKON Optistation VII是一种最先进的自动面罩和晶圆检查设备。它旨在准确、快速地检测各种基板和表面的缺陷,包括晶体管、存储器和其他半导体器件。它提供了一个全面的检查系统,包括直接曝光和高分辨率成像能力。该装置配置了多功能多轴高精度纳米级机、高分辨率晶圆成像传感器和集成软件。此功能组合为晶圆映射和缺陷检测提供了理想的解决方桉。它配备了两个先进的远程中心镜头系统,一个超高分辨率液晶显示器和一个获得专利的双照明工具,能够实现最高水平的缺陷分辨率。高级用户界面功能允许高效、直观的操作、自动参数设置以及多用户操作。先进的缺陷检测方法包括缺陷几何和灰度特征的分类和加权,创造出更准确的缺陷检测率。该资产与各种流行的半导体制造工艺和材料配方兼容,能够处理多达600mm的晶圆。它配有嵌入式PC,带有多个USB端口,用于计算机连接,用于数据交换。该模型还包括复杂的设计和应力分析参数,以确保最高的质量检验结果。Optistation VII为各种掩模和晶圆检查应用提供了高性能、可靠性和准确性。它非常适合集成电路(IC)设计师、微处理工程师以及材料科学家和微流体工程师。它易于使用的用户界面和自动化功能使其适合许多不同的检查任务。其双光束设计和超高分辨率成像实现了最高效准确的缺陷检测和分类。
还没有评论