二手 NIKON Optistation VII #293661596 待售

ID: 293661596
Wafer inspection system.
NIKON Optistation VII是一种高度先进和精密的掩模和晶圆检测系统。它设计用于光刻面罩、晶片和组件的高速和高分辨率检查。它是NIKON的顶级产品,提供更高的准确性、更高的吞吐量和生产率。它技术先进,不仅适用于光掩模和晶片,而且能够检查其他类型的印刷品、镀层和非镀层晶片。Optistation VII利用Zeiss Achromat 4/0.6NA目标和Fluorart SX HFAPO涂层,配有能够捕获2.2纳米像素大小图像的灵敏CCD探测器。这种先进的光学和数码摄影的组合提供清晰和详细的图像从即使是最微小的缺陷。它能够查看高达12英寸的晶片并捕获分辨率高达17纳米的图像。此外,NIKON Optistation VII还采用了获得专利的双面扫描技术,用户可以同时检查晶片的两侧,从而无需进行多次扫描。Optistation VII具有高度的通用性,可以倒置、翻转、旋转和平移,以适应各种类型的光学和视角。它还配备了多种自动化功能,便于操作。该系统可以编程为执行各种命令,例如测量形状、放大感兴趣的区域以及检查晶片的内部和外部。它还允许用户轻松进行图像比较和对比,以识别细微的缺陷。NIKON Optistation VII还具有两个高精度级,用于定位分辨率高达0.1微米的晶片。它还提供精确的翻译和对齐功能。此外,Optistation VII还集成了高级软件包,使用户能够自动执行检查任务。该软件集成了模式识别功能和过程表征,使用户能够快速识别和检测缺陷。NIKON Optistation VII是一种最先进的掩模和晶片检查系统,提供无与伦比的精度、高分辨率成像和自动化功能,便于操作。它是工业应用的完美解决方桉,提供可靠且可重复的结果。而且,它具有成本效益和极高的效率,很容易满足任何现代半导体制造环境的需求。
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