二手 OSI Metra 2115M #293629181 待售
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OSI Metra 2115M是一种设计用于半导体制造过程的先进级掩模和晶圆检测设备。它利用先进的自动图像识别技术,快速准确地检查掩模或晶片表面是否存在可能影响产品质量的缺陷或不规则性。其主要组件包括内置精密X/Y和倾斜运动的扫描阶段、基于真空的视觉系统以及高分辨率液晶图像监视器。视觉单元利用多种光学器件，包括数码相机、微透镜和波长敏感传感器，快速捕捉、分析和显示掩模或晶圆表面的高分辨率图像。然后将记录的数据用于检测表面微妙的不规则性，如颗粒污染、裂纹或翘曲，或其他可能导致半导体元件缺陷或低于标准的不规则性。Metra 2115M还包括一个用于编程和过程控制的用户友好界面。机器能够执行复杂的任务，如跟踪不均匀的步骤，控制波形，控制X/Y和倾斜运动。可编程逻辑控制器允许用户自定义检查和数据分析过程的参数。此外，OSI Metra 2115M还配备了专门的大格式统计分析软件，能够对大量数据进行快速、一致的分析。此软件可以比较视觉工具在许多晶圆或掩模表面收集的数据,以快速识别异常值或异常。最后,Metra 2115M旨在方便地集成到其他流程和设备中。它的网络接口允许与其他机器连接，如激光扫描仪或自动分选系统，没有任何困难。这样就可以根据需要将其纳入其他工艺中，以简化半导体的生产工艺。
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