二手 OSI METRA 2150M #293811508 待售

OSI METRA 2150M
製造商
OSI
模型
METRA 2150M
ID: 293811508
晶圆大小: 6"
Overlay inspection system, 6".
OSI Metra 2150M是一种高性能的掩模和晶圆检测设备,结合了自动化的光学和激光测量解决方桉,以满足半导体掩模和晶圆检测的要求。该系统旨在检测、分类和测量光学和激光处理的掩模和晶片上的各种缺陷。Metra 2150M配备了高功率激光模块和一套专利光学检测、分类和测量算法。激光模块由三个可互换激光源组成:高功率激光器、近红外激光器和紫外线激光器。该单元的传感器分辨率为1微米,测量范围可达300毫米。OSI Metra 2150M的关键特性之一是其模块化和可扩展的体系结构,这使得它可以部署在半导体掩码、元件和晶圆检查等各种应用中。机器的高速检测能力,加上检测不同类型缺陷的能力,为掩模和晶圆检测提供了最可靠、最具成本效益的解决方桉。Metra 2150M可以编程为检测各种类型的缺陷,如划痕、点蚀、断裂、涂层问题、针孔、临界特征大小、线宽测量等。它也可用于表面检查和垫上检查、栅格到检查等过程。OSI Metra 2150M采用用户友好软件设计,使用户能够轻松地导入和导出数据以及监视和控制该工具。软件还提供了可自定义的报告和图表,使用户能够跟踪其检查结果并分析数据。此外,Metra 2150M先进的光学和激光检查功能使用户能够检测到蒙版和晶圆表面最微小的缺陷。OSI Metra 2150M是一种可靠且经济高效的掩模和晶圆检测资产,旨在检测和测量各种缺陷。其高速检测能力、模块化和可扩展的体系结构、用户友好的软件以及精密的光学和激光检测能力,使其成为任何掩模和晶圆检测应用的完美选择。
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