二手 OSI Metra 2200M #9384889 待售

OSI Metra 2200M
製造商
OSI
模型
Metra 2200M
ID: 9384889
Overlay measurement system.
OSI Metra 2200M是一种掩模和晶片检测设备,设计用于对半导体制造中使用的晶片和掩模进行快速、准确的检测。系统使用高级高分辨率成像单元在几秒钟内分析晶圆或掩码上的每个图像。机器能够在很短的时间内识别错误和缺陷,因此非常适合生产级别的制造。Metra 2200M使用传感器/itcore处理器和光学阵列这两个主要组件构建。传感器/itcore处理器充当工具的眼睛,读取晶圆或蒙版上的每个图像。光学阵列以800-1000倍的倍率捕获图像,并应用算法分析结果。这使OSI Metra 2200M能够检测错误和缺陷。Metra 2200M利用各种软件工具提供结果。其中包括高级模式识别、缺陷审查和过程控制功能。模式识别特征识别图像中的异常和异常模式,而缺陷查看特征检查是否存在污染、未对齐和其他不希望的情况。最后,过程控制功能通过监视过程和提供需要进行的任何调整的反馈来帮助简化生产。总体而言,OSI Metra 2200M是一种强大而高效的掩模和晶圆检测资产。它能够快速准确地检测生产环境中的缺陷,使其成为半导体制造商不可或缺的工具。该模型的高级功能使其能够快速方便地识别问题,而其高分辨率成像提供了任何缺陷的详细图像。此外,设备的过程控制功能有助于制造商简化生产。因此,Metra 2200M对于半导体制造商来说是一种有效和可靠的设备。
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