二手 OSI Microvision 15 #5921 待售

OSI Microvision 15是一种复杂且功能强大的掩模和晶圆检测设备,旨在检测、分析和分类各种半导体器件中的缺陷。其先进的算法和成像功能使其能够自动识别和分类可修复和不可比拟的缺陷,从而实现快速、准确的维护和质量保证操作。该系统包括机动化、同步晶圆传输单元、高分辨率显微镜、采集子系统和缺陷检测子系统。该显微镜具有5倍变焦功能，能够将缺陷放大到1000倍。这可以让操作员以前所未有的细节看到和记录缺陷，小到0.20微米！采集子系统结合显微镜，允许在一次扫描中对整个晶片进行成像。利用多种CMOS和CCD摄像机以及明场、暗场和斜角成像技术，准确捕捉晶圆特征的精细细节和细微差别。缺陷检测子系统是模式识别技术、ProgRama独特的基于现场的缺陷产品以及Metrosight专有的机器视觉算法的强大组合。这些技术使机器能够执行检查、识别模式缺陷、对缺陷进行分类并将其分离以进行进一步分析。然后通过工具的缺陷分类工具对收集到的数据进行分析和分类，从而能够快速准确地分类关键缺陷。此后，数据被导出到基于补丁的缺陷审查站，该站为操作员提供详细的缺陷图像、数据分析和分类报告。使用报告工具,操作员能够生成具有可操作信息的全面报告,以快速准确地识别和记录有缺陷的晶片。总体而言,Microvision 15构成了自动掩模和晶圆检查的综合资产。利用其先进的成像和缺陷检测技术，可以准确识别、测量和分类任何可能的缺陷。此外,它还提供强大的报告功能,使操作员能够快速准确地分析缺陷并采取纠正措施。它是任何高性能质量保证操作的理想选择。