二手 OSI POLYCHECK W-LAF #9329316 待售

OSI POLYCHECK W-LAF是一款由OSI Opto Electronics开发的掩模和晶圆检测设备。它是一个全自动系统，旨在减少发现光掩模和晶片缺陷的时间和精力。该单元通过检查晶片和光掩码的图像来识别缺陷，然后事先将其分类。利用光学激光投影机，POLYCHECK W-LAF能够探测极小的粒子和缺陷，例如尺寸小于25 μ m的粒子。这使得该工具非常适合检查掩模和晶圆尺寸的可接受性,以及发现掩模两侧的缺陷。除了分辨率外,资产还具有两种不同的光学特性,可以快速准确地进行检查。该模型包括实时成像功能,可简化和加快检查口罩的过程。实时成像功能实时捕获晶片的图像,并允许操作员快速检查图像中的任何缺陷。此功能在大容量制造应用程序中特别有用,因为它允许快速复制相同的检查结果。OSI POLYCHECK W-LAF的第二个特点是它的自动化缺陷排序特性。设备能够根据缺陷的大小和在掩模或晶片上的位置快速准确地排序缺陷。这些缺陷排序参数可以包括x/y坐标、面积大小、亮度/强度、长宽比和最陡度/衰减率。这使得整个检查过程更快、更高效，因为操作员可以快速识别可能需要更详细检查的区域。总体而言,POLYCHECK W-LAF以惊人的速度提供极高的分辨率扫描。其实时成像和自动缺陷分类功能使其成为快速准确地发现掩模或晶片中任何缺陷的理想工具。它是一个功能强大的系统,可以节省时间和精力,同时确保成品没有缺陷。