二手 PARLEC P2500A-0387 #9266042 待售

PARLEC P2500A-0387掩模和晶片检查设备是一种高精度设备,用于检查用于制造集成电路（ICs）的模具、晶片、电路板和其他材料的状况。它提供了高分辨率的检查，图像大小为20微米，并且能够检测到小至0.5微米的缺陷。它采用先进的成像系统设计，结合双目和非接触光学显微镜以及基于三角测量的3D重建。这使得它可以捕获晶圆或电路板整个表面积的详细图像，并且能够检测到小至0.5微米的缺陷。该设备有两种模式：手动模式和自动模式。在手动模式下，手动操纵杆允许用户手动调整设备的x-y位置和焦点。在自动模式下，"目标锁"功能确保设备即使在移动设备位置时也会停留在相关图像的中心位置。此外,该机器还具有基于软件的特征识别功能,使其能够检测要检查的材料上的图桉、边和角。P2500A-0387设计易于使用和操作。它集成的图像存储允许用户直接从控制面板浏览、存储和查看已检查的图像。此外,内置以太网技术使设备能够连接到网络以进行远程控制和数据分析。PARLEC P2500A-0387掩模和晶片检查工具为检查IC提供了可靠的平台和性能。其高分辨率成像、精密光学、高精度、直观界面，使其成为芯片、晶圆、电路板检测的理想选择。通过使用户能够轻松快速地检测这些材料中的缺陷,资产有助于以显着较低的成本提高集成电路的质量和可靠性。