二手 PROBING SOLUTIONS WM42 #140675 待售

探测解决方桉WM42掩模和晶片检测设备是一种用于集成电路检测的高性能、高速成像和分析系统。它专为生产线而设计，用于最苛刻和最复杂的IC，如FinFET、3D和High Voltage （HV）。它为非接触式光学和接触式电气测量提供了强大的检查能力。WC42单元利用了一系列具有微观视野的专门设计的探针。探测器连接到具有高分辨率、高变焦镜头的成像机，以捕捉IC的图像。一个包含探头的成像头安装在精确的线性级，允许头部精确地指向IC的任何区域。这些探针经过精确校准，能够通过测量电路的最小改变的电行为来识别IC电路中的缺陷。这些探针可与光学和激光技术结合使用，对微观结构进行完整的物理和电气分析。WM42的高级分析系统包括几种先进的图像处理算法和软件工具，以便对检查获得的图像进行详细的检查和分析。然后,此数据可用于识别缺陷并输出详细报告。PROBING SOLUTIONS WM42工具还提供了先进的功率测量,可以识别IC电路中的短路和开路缺陷。功率测量用于识别IC逻辑单元中的电压和电流下降,这有助于查明电路中的弱点。WM42资产还提供先进的热、振动和运动控制,使探头能够精确移动到IC上的任何点。该模型还为客户提供了许多选项,例如访问IC的3D视图、边缘增强成像、多通道分析和进给测试。PROBING SOLUTIONS WM42设备对于IC来说是一个非常宝贵的工具,它提供了高级探测和分析功能来识别缺陷并提高产品产量。它实现了更快、更准确的IC监控和生产控制,确保客户获得他们期望的产品。