二手 RAYTEX RXW-1226SFI #9315831 待售

RAYTEX RXW-1226SFI是一种专门设计用于半导体工艺环境的掩模和晶圆检测设备。该系统配备了一个集成光学检查组，利用明场和暗场图像优化，以及结构化红外技术来检测广泛的缺陷。此外，其先进的信号处理机器能够自动评估缺陷，以便根据缺陷的严重程度对其进行分类。RAYTEX RXW 1226SFI具有10微米的超高分辨率。这使得它成为检查蒙版和其他光阻表面的高度精确的工具。工具中的集成光源进一步确保为缺陷检查和识别提供尽可能高的照明条件，有助于更快、更高质量的分析。资产还具有多种覆盖方式，包括带状和全覆盖模式。这些措施在可以进行的检查和分析类型方面提供了灵活性。此外，模型还提供各种模式识别算法，使其能够提供缺陷模式的自动分析。该设备还具有触摸屏界面，为用户提供直观易用的界面。这样可以方便地导航系统,并可用于控制各种设置。该单元还具有各种定制选项，允许为不同类型的检查量身定制数据输出。总体而言,RXW-1226SFI是一个优秀的和高度先进的面膜和晶圆检测机.其先进的光学检测工具能够检测到各种缺陷，其可定制的输出为分析和检测这些缺陷提供了更高的精度和准确性。这一资产是一个非常强大的工具，在半导体工艺环境中至关重要。