二手RUDOLPH(晶圆检测)待售

Rudolph Technologies是一家全球先进半导体工艺控制设备制造商，用于掩模和晶圆检测。它们的掩模和晶片检查系统范围包括WV 320、NSX 105和Waferview 320等。WV 320是一种先进的掩模检测系统,可提供出色的分辨率和灵敏度,用于检测光掩模上的小缺陷。利用宽带紫外线检测技术与先进算法相结合，提供准确的缺陷分类和表征。WV 320确保提高半导体制造的产量和可靠性。NSX 105是一种高性能晶片检测系统，旨在检测晶片上的缺陷并对其进行分类。利用先进的光学技术和图像处理算法，提供快速准确的检测结果。NSX 105具有广阔的视野和较高的吞吐量,能够在晶圆生产过程中进行有效的缺陷检测,减少产量损失并改进过程控制。Waferview 320是一种多功能晶片检查系统,提供全面的缺陷审查功能。它结合了明场和暗场检测技术，提供了关于缺陷大小、形状和位置的详细信息。Waferview 320是前端和后端晶圆检测的理想选择,能够在整个半导体制造过程中快速可靠地检测缺陷。总体而言,Rudolph的掩模和晶圆检测系统提供了先进的技术、高分辨率成像以及可靠的算法,可用于准确高效地检测缺陷。这些系统帮助半导体制造商提高产量，降低成本，增强工艺控制。