二手 RUDOLPH / AUGUST NSX 105C #9277053 待售

RUDOLPH/AUGUST NSX 105C Mask和Wafer Inspection设备提供了性能、多功能性和可靠性的独特组合。该系统设计用于在制造过程中检测口罩和晶片上任何大小和形状的缺陷，可用于检测高达25微米的分辨率。AUGUST NSX-105C能够检测接触层、薄膜层、高长宽比结构、CD和音高等特征,还可以检测可能影响产品质量的颗粒和其他污染物。RUDOLPH NSX 105 C具有相机头的自动可编程定位，由屏幕上的图形用户界面控制。这样就可以将摄像机精确定位在所检查的每个对象所需的视场中。RUDOLPH/AUGUST NSX 105 C的一个独特特点是图像可以用无透镜光学单元聚焦。这意味着，用户无需手动购买镜头和调整对焦，只需简单地输入所需的图像大小，并将相机定位对焦即可。RUDOLPH NSX-105C带有各种图像采集软件，可用于获取和处理图像数据。该软件允许获取多个图像,然后可以比较这些图像进行检查。软件的比较功能可用于检测两个或多个图像之间的不规则性,以识别任何缺陷。为了提供更可靠和一致的结果,可以快速、准确地做到这一点。此外,NSX 105C还提供自动缺陷分类,以更好地保证质量。此自动化功能使用户能够快速识别和分类被检查对象中发现的任何缺陷。该机还配备了可用于检测材料微观缺陷的反射测量工具。总体而言,NSX 105 C蒙版和晶圆检验资产是确保产品制造质量的宝贵工具。该模型将性能和可靠性相结合,使其成为寻求减少缺陷和改进其整体工艺的任何制造商的绝佳选择。