二手 RUDOLPH / AUGUST NSX 105C #9300479 待售

RUDOLPH/AUGUST NSX 105C Mask&Wafer Inspection Equipment是一种用于检查现代半导体制造工艺中使用的mask和wafer的高分辨率系统。该装置采用2nm分辨率的光学器件，即使是最复杂的图样也能提供高精度的图像分辨率。光学器件连接到高分辨率扫描相机，提供出色的图像清晰度。AUGUST NSX-105C为半导体制造工艺提供了极好的好处,因为它能够进行多次缺陷检查,并评估工艺是否符合规范。机器由两个主要单元组成，一个光源模块和一个自动检测模块。光源模块提供了包括LED、激光和弧光灯在内的广泛照明。自动检测模块可以检测多个平面的缺陷。它还为图像数据的分析和管理提供软件。RUDOLPH NSX 105 C是为了满足现代半导体器件制造的严格需求而设计的。其先进的光学器件可以显着改进成像,而不是老式的晶圆检测系统。该工具采用了一种专有的航空图像传感技术，使它能够在进行一次扫描所需的时间内扫描晶圆的整个表面。轻巧紧凑的资产设计使其非常适合在大批量生产环境中使用。NSX 105 C还提供高级缺陷检测功能。它配备了多种先进的检测算法，保证了优异的缺陷检测性能。用户还可以利用该模型进行快速、高效的数据分析。该设备非常方便用户，并提供有用的反馈和供应分析工具，以最大程度地检测缺陷。总体而言，NSX-105C面膜晶片检验系统是一个先进的单元，用于检测适用于大批量生产环境的面膜和晶片。其先进的光学设备可实现高分辨率图像,从而实现快速准确的缺陷检测。该机用户友好性强，功能丰富，是半导体器件制造过程中的宝贵资产。