二手 RUDOLPH / AUGUST NSX 115 #293595875 待售
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ID: 293595875
优质的: 2009
Automatic Optical Inspection (AOI) system
X-Port Wafer handler included
2009 vintage.
RUDOLPH/AUGUST NSX 115是一种最先进的掩模和晶片检测设备，利用强大的成像技术和先进的模式检测算法来检测用于制造各种半导体产品的掩模和晶片上的缺陷。该系统采用5英寸液晶触摸屏,提供易于使用的用户界面,使操作员能够快速监控生产过程的质量。使用单色数码相机和专有的扫描头,该设备能够同时捕获两个图像,并在单个高速通过样本时进行特征检测。高分辨率和高增益图像传感器可提高所有类型缺陷的图像分辨率,而同时进行平面成像、垂直和水平图样扫描、线图和位图扫描则通过可配置的峰值检测设置和先进的反卷积技术实现。机器还提供了选定的晶圆检查算法和掩码检查算法库,这些算法是针对特定缺陷类型量身定制的,可以根据用户的特定应用程序或测试要求进行配置。为了获得最大的检测能力,AUGUST NSX 115提供了广泛的功能和设置,包括缺陷库、直方图编辑和移位,以及对象分类器和分段。最后,该工具提供了真色成像、缺陷自动分类和评分、缺陷分析和分类,以及增强的库资产,可帮助操作员进行缺陷分析和报告。这使操作员能够了解缺陷的来源，并在故障分析中提供帮助，帮助他们快速修正并最大限度地减少生产线延误。总体而言,RUDOLPH NSX 115掩模和晶圆检验模型是确保半导体产品制造质量的有力工具。它结合了先进的扫描技术、故障检测算法和用户友好的界面,确保它能够高效、快速地识别、分析和量化甚至最困难的缺陷,从而为操作员提供保证产品质量所需的工具。
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