二手 RUDOLPH / AUGUST NSX 115 #293598219 待售

RUDOLPH/AUGUST NSX 115是一种高性能的掩模和晶圆检测设备，设计用于检测各种半导体器件应用中的缺陷。该系统采用先进的成像技术和先进的算法，对包括先进包装和光电子在内的多种材料进行检测。它能够检测与图像相关的缺陷,如线宽变化、模式偏移、逻辑和内存晶片上的开路/断路以及超细Cu/Al布线。AUGUST NSX 115单元采用全自动集成设计,需要最少的操作员,并允许经济高效的自动检查。它配备了强大的光学成像能力，包括先进的模式识别、晶圆识别阅读器（WDIR）、模式检测和粒子自动检测。它还提供了广泛的检查速度,包括快速扫描速度和设备特性的精确测量。RUDOLPH NSX 115具有高分辨率的全彩屏和直观的用户界面，能够快速高效地比较来自多个掩码和晶片的数据。这台机器有广泛的集成检测选项，包括模模检测、晶片对晶片检测和同时模模和晶片对晶片检测。它还提供了用于缺陷自动分类的独特模式识别库，以及用于减少错误检测的高级模式匹配算法。该工具的全自动视力检查能力进一步简化了操作，从而无需人工抽样检查和昂贵的硬件。资产的多区域验证功能为检测部分缺陷提供了经济高效的解决方桉。此外，NSX 115具有良好的可重复性和可重复性，具有优异的缺陷检测灵敏度，有利于优越的缺陷表征和屈服分析。总体而言,RUDOLPH/AUGT NSX 115型号是一款用途广泛、性能高、成本效益高的掩模和晶圆检测设备,旨在满足半导体器件应用的严格要求。该系统具有先进的成像技术、快速的扫描速度和直观的用户界面，是检测关键缺陷和提高产量的有力工具。