二手 RUDOLPH / AUGUST NSX 95 #293755012 待售

RUDOLPH/AUGUST NSX 95掩模和晶片检查设备是一种最先进的光学检查系统,旨在检测半导体晶片、标线、掩模和无与伦比的清晰度平板表面的缺陷和污染。除了标准的光学检查外，该单元还配备了先进的ColorMap™技术，这是一种以标准和直观的格式显示缺陷的可视化方法。AUGUST NSX-95机器使用先进的图像处理算法来检测缺陷，同时通过硬件压缩实现毫秒的处理速度。这使工具能够快速准确地识别对象,并处理复杂、重迭的图像而不会出现延迟。板载边缘去缩放和图像恢复等功能确保检查结果始终准确可靠。该资产配备了高性能晶圆扫描模型，用于完全识别和捕获表面缺陷和污染物。它利用大视野、高分辨率相机和高功率、近红外LED源来实现最大的性能和灵敏度。该设备还配备了一系列面罩和标线测量工具，使用户能够测量缺陷和污染，包括遗漏的特征、近似性和均匀性。系统还测量缺陷相对于每个设计元素边缘的位置,允许用户检测到太小或太靠近设计元素边缘而大多数标准系统无法检测到的缺陷。该单元是可扩展的,允许用户自定义其功能以满足其特定应用程序的需求。可选的摄像头和照明升级可提高灵敏度和性能,同时可根据需要添加掩模测量工具和自动缺陷分类功能。RUDOLPH NSX 95 Mask&Wafer Inspection Machine为Mask和Wafer Inspection提供了完整的解决方桉，使用户能够快速、准确、可靠地检测缺陷和污染。凭借其高性能、创新特性和可扩展性，该工具适合广泛的检测要求。