二手 RUDOLPH / ONTO INNOVATION NSX 320 #9396970 待售

ID: 9396970
晶圆大小: 8"
优质的: 2014
Automated defect inspection system, 8" 2W XPT Explorer function Load port with robot handler BASLER Inspection camera Operating system: Windows 10 Power supply: 208-240 V, 50 Hz, Single phase CE Marked 2014 vintage.
RUDOLPH/ONTO INNOVATION NSX 320是一款先进的掩模和晶圆检测设备,旨在快速准确地检测缺陷。该系统具有高度灵敏的摄像头,可以从每个晶片的顶部和底部捕获图像,从而可以进行多级检查。强大的成像软件可以检测到可能通过其他关键检测系统无法检测到的各种缺陷,使其成为半导体行业质量控制必不可少的工具。RUDOLPH NSX 320是一个功能强大但易于使用的单元。其用户友好的界面和广泛的可自定义的用户选项确保所有的掩模和晶圆检查准确、快速和可靠地执行。该机适合2D、3D和360度的检查,相机角度和对焦可调,提供每个晶片的综合视图。该工具的高级软件套件使用高级算法识别关键缺陷,能够检测和分类颗粒缺陷、线缺陷和聚酯薄膜缺陷,以及其他关键缺陷,精确度很高。凭借其高速,ONTO INNOVATION NSX 320可以检测和测量像素大小小于10微米的缺陷,提供完全覆盖的掩模和晶圆检查。NSX 320具有高级检查和标记识别功能,可准确检测和测量其他检查系统可能隐藏的缺陷。它还可以检测特定模式,如随机点缺陷和断线缺陷,以及其他关键缺陷。该资产还具有一个强大的工具,用于测量和分析缺陷,以准确追踪和报告结果。其独特的技术能够检测晶片上的缺陷位置,并生成缺陷轮廓和其他关键信息的报告。该模型具有广泛的数据存储和召回功能,能够快速、轻松地检索结果。RUDOLPH/ONTO INNOVATION NSX 320还可以通过Web服务或通过使用USB驱动器接收数据,从而实现多个设备用户之间的远程协作和数据交换。RUDOLPH NSX 320的最终用户能够依靠系统的高速、高精度性能来确保其产品的质量。ONTO INNOVATION NSX 320具有易于使用的界面、强大的成像和分析工具,以及广泛的存储和召回功能,是高级掩码和晶圆检查的基本解决方桉。
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