二手 SEIKO SIR 3000 #9105307 待售

SEIKO SIR 3000是为满足现代半导体制造工艺的需求而设计的先进的掩模和晶圆检测设备。该系统允许精确测量和识别模具或晶片上包含的细线图样和隔离电路等图样中的缺陷。设备的检测机构首先利用先进的表面成像机精确捕获、测量和检查掩模或晶片的表面特征。然后,此工具可以利用光学技术将捕获的图像与"良好"参考图像进行比较。SIR 3000的成像资产还测量了可用于确定介电厚度的线宽、隔离电路和3D结构布局等表面特征，以及其他特征。该模型还允许检查表面和几何缺陷,如划痕、表面粗糙度和凿子。该设备包括可快速识别缺陷的批量图像创建和图像比较工具。高倍光学功能允许实时检测掩模或晶片中的缺陷。该系统还提供晶片级缺陷检测以及掩模缺陷检测和字符分级。SEIKO SIR 3000还提供了多种基于日志的分析工具，使操作员能够轻松分析和调整图像校准结果。背面图像检查也可用于检测异物粒子等特征。SIR 3000可进行各种软件升级,包括改进自动化和提高缺陷晶片浓度的软件。该单元还具有一个用户友好界面和一个内置数据库，可存储多达1000个图像和测量值。SEIKO SIR 3000是实现面罩和晶圆检查急需的精确度的重要工具。它提供了详细的分析和快速的结果,以便制造商能够实时了解其生产过程是否正常运行。该机先进的技术，加上用户友好的特点，使其成为当今市场上领先的面罩和晶圆检测系统之一。