二手 SEMILAB / SDI FAaSt 230 #9355343 待售

SEMILAB/SDI FAaSt 230是一种掩模和晶片检测设备，设计用于快速准确地检测测试晶片、掩模和其他半导体基板上的缺陷。该系统能够检测颗粒污染物、接触垫上的缺陷、开路或短路、风吹、蚀刻、腐蚀以及基板上的打印缺陷。它是一个完全自动化的单元,具有直观的用户友好软件,用于快速设置、诊断和报告。该机配有偏振光显微镜（PLM）工具，可提供高质量的半导体结构成像。内置有DLP和背光光学器件的光学检查头使资产能够捕获结构图像,以便检测、识别和分析缺陷。自动化缺陷检测和实时图像处理等内置技术和算法使得能够对复杂的半导体结构进行高效、可靠的分析。该模型除了具有成像能力外，还具有一整套测量和特征，包括临界尺寸（CD）测量、通过喷墨和标记沉积物进行故障分析以及氧化膜分析。专用的XY级允许在样品上精确移动和定位,以便更好地进行分析。此外,它还附带多个数字接口,例如USB、LAN和DPI,以促进与外围设备和外部软件应用程序的集成。该设备以先进的激光聚焦技术提供了最高水平的准确性和可重复性。结合其半自动自动铝箔更换功能，它允许快速数据捕获和分析，每小时处理多达500个晶圆。有了深层的分析数据库和跟踪文件，客户可以快速搜索自己的记录，并查明生产线上可能遇到的困难。此外，该系统还获得了SEMATECH、IEST-RP-CC002.3、ISO/IEC 24324和STMicroelectronics等机构的认证，使其成为质量保证和生产线分析的理想工具。其符合人体工程学的设计允许将单元的各个部分方便地纳入分析和生产行业。SDI FAaSt 230是一款先进的掩模和晶圆检测机，可以为其用户提供可靠的高性能结果。