二手 SEMILAB / SDI FAaSt 300-SPV #173920 待售
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ID: 173920
晶圆大小: 8"-12"
优质的: 1997
Surface photo voltage tester, 8"-12"
Contact and non-contact surface photo voltage test capability
Open cassette handling
EQUIPE TECHNOLOGIES ATM-105 Wafer handling robot
EQUIPE TECHNOLOGIES ESC-212 Robot controller
EQUIPE TECHNOLOGIES PRE -3019 Wafer pre-aligner
(2) NEWPORT RESEARCH MM3000 Motion controllers
Light activation module:
Designed for 200mm & 300mm wafers
SDI Control Fe activation controller
Dual halogen lamp housings
Wafer analysis module:
EG&G PAR 7260 DSP Lock-In amplifier
SDI LPS-12 Power supply
SDI Opto coupler
Reference light module:
Halogen lamp housing
EG&G PAR 197 Light chopper
Filter wheel assembly
(8) Filters
Fiber optic light delivery
Wafer analysis chuck:
Anodized aluminum wafer chuck, 8"
Designed for 200mm & 300mm wafers
Calibration chip fixture
HEWLETT PACKARD Vectra XA computer:
3.5” Floppy disc drive / CD-ROM Drive
SYQUEST ezflyer 230GB Backup tape drive
Color LCD monitor, 15”
Ghost HDD included
1997 vintage.
SEMILAB/SDI FAaSt 300-SPV是业界领先的面膜和晶圆检测设备。该系统能够提供高分辨率的映像、快速的吞吐量和全面的映像逻辑。作为一个先进的单元，它结合了标准的掩模和晶圆检验机的先进特性以及一个完全可配置的平台的灵活性。主要工具由掩模检测室和晶圆检测室两个主要组成部分组成。口罩检查室能够支撑各种口罩，并提供高达1.46亿条每秒记录的全场高分辨率图像。它具有超低噪声数字信号处理器（DSP）,可同时成像、评分和分析一批多达24个掩码。晶圆检测单元提供了一套全面的检测功能，包括每秒高达2400万像素的高分辨率成像和用于自动缺陷分类的高级图像逻辑。SDI FaSt 300-SPV还提供各种处理器和数据管理解决方桉。它支持灵活的逻辑功能和数据采集,使用户能够根据自己的特定检查需求定制资产。它还允许整合额外的检查系统或组件。凭借其完全可配置的平台和快速的映像吞吐量,该模型可以配置为有效地解决最具挑战性的故障分析应用程序。除了成像和数据采集能力外，SEMILAB FAaSt 300-SPV还配备了自动化缺陷表征和分析的高级工具。这些包括缺陷隔离、显微镜分析、自动化测试分析、故障模拟和光电布局视图。这使用户能够快速识别和纠正缺陷,以避免因代价高昂的故障而造成的代价高昂的停机时间。FAaSt 300-SPV是业界领先的面膜和晶圆检测解决方桉。该设备结合了先进的成像、快速的图像吞吐量和全面的图像逻辑,为要求苛刻的故障分析应用程序提供了无与伦比的灵活性和性能。其可配置的平台和强大的数据管理解决方桉确保用户能够放心地满足他们最具挑战性的故障分析需求。
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