二手 SEMILAB / SDI FAaSt 330 #9261423 待售
网址复制成功！
单击可缩放
ID: 9261423
晶圆大小: 12"
优质的: 2001
System, 12"
Process: CV (DP-SPV)
Module: DIFF
Operating system: Windows XP
2001 vintage.
SEMILAB/SDI FAaSt 330是一种掩模和晶片检测设备，旨在提供高度准确可靠的缺陷检测结果。它是半导体制造商的首选产品,因为它提供卓越的性能、多功能性和成本效益。SDI FAaSt 330利用先进的模式识别算法来检测和评估掩模、晶圆、材料和基板上的缺陷。高分辨率CCD摄像机可捕获掩码或晶圆样本的图像,而数值区域检查程序可隔离任何潜在的缺陷特征。然后由功能强大的数字处理器分析此信息以生成详细的缺陷映射。FAaSt系统使用直观的界面来确保准确性和高效的缺陷映射。还采用了先进的缺陷检测技术来精确地绘制和分析临界缺陷的光学对比度变化，即使在眼睛、角落和边缘等困难区域也是如此。该技术消除了背景噪声和错误警报,确保了最准确的结果。因此，SEMILAB FAaSt 330可以提供先进的三维和二维缺陷观测。该设备设计为快速、易于安装和操作,同时提供最大限度的用户控制和可访问性。它的模块化体系结构提供了高效的缺陷检查和报告。此外,FaSt设备还配备了自动聚焦功能,增强了检测非常小缺陷的能力。FAaSt 330掩模和晶圆检测机是半导体制造商和其他相关行业的理想选择。其先进的设计、通用的技术和直观的界面使用户能够以优异的效果进行高度准确和可靠的检查。因此,SEMILAB/SDI FAaSt 330是现有的最可靠和最具成本效益的掩模和晶片检查系统之一。
还没有评论