二手 SEMILAB / SDI FAaSt 350 #9236891 待售

SEMILAB / SDI FAaSt 350
ID: 9236891
晶圆大小: 12"
优质的: 2006
Wafer characterization system, 12" 2006 vintage.
SEMILAB/SDI FAaSt 350是一种专门的仪器,设计用于检查半导体工业中的掩模和晶片。该设备由一台先进的光学显微镜组成,该显微镜配置有帧抓取器、数码或模拟相机、图像处理软件和模式识别模块。它非常适合较小的成像应用,如晶片模具、电路图样或标线。该系统被设计用来检测即使是最小的不规则性,允许在半导体器件内及早发现原本太小而不能被注意到的问题。它可以检查晶片或元素的每个区域以确保其均匀性。SDI FAaSt 350配备了全场照明单元和以物体为中心显微镜(Object- Centred Microscopy,OCM)。这台照明机器产生了一个非常明亮、均匀的光,它通过将光聚焦到要研究的各个部分而被引导和揭示到样品上。这使得工具能够利用亚微米特性,这可能是难以检测到的传统手段。利用3D图像处理资产,该模型能够以惊人的精度检测和测量特征。它使用几何分析方法来允许掩码或晶片的三维视图,从而允许在单个操作中监视多个特征尺寸。这种灵活性使得SEMILAB FAaSt 350成为一种高度通用的仪器,它可以用于从简单缺陷分析到复杂轮廓测量的各种检查任务,所有这些都是在一个数据集中进行的。设备配置方便,全触摸屏控制操作,使操作员工作高效准确。它还具有多种高级照明选项,如平面、控球后卫、线路后卫、对比分析、多通道对比、消息传递和高速操作。它可以很容易地编程以准确、快速地捕获图像和结果。总体而言,FaSt 350是一种先进的掩码和晶圆检查系统,可提供高分辨率分析、基于对象的查看和快速、准确的结果。它可以根据不同的检查任务和环境量身定制,是确保半导体生产中最高质量控制水平的可靠、高效的单位。
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