二手 SEMILAB / SDI FAaSt 350 #9268262 待售

SEMILAB/SDI FAaSt 350掩模和晶片检测设备设计用于在半导体集成电路生产过程中对制造的掩模和晶片进行自动表面缺陷检测。此自动化系统可快速可靠地检测和评估各种基板上的表面缺陷,包括晶圆、掩模、铅架、电子元件和其他扁平基板。该单元包括综合SDI FAaSt 350光学站，为最高精度成像和缺陷检测配备了高品质的Leica光学。它具有高分辨率的成像能力，可以检测到小至4 μ m的缺陷，而其专利的Low- FG照明机器可以确保无缺陷的背景图像。此工具还提供了出色的图像对比度和可见性,以便于缺陷识别和分类。SEMILAB FAaSt 350的设计非常方便用户,它具有简单直观的图形用户界面（GUI）,能够快速轻松地检查样品。不同的设置可以在资产上进行编程和保存，允许操作员在被检验的样本需要不同的检查协议的情况下快速调整机器。除了成像模型外，FAaSt 350还具有自适应子分辨率检查算法，允许对缺陷进行实时检测和分类。这些算法对图像进行分析，以便准确识别样本中的缺陷。此外,机器的自动聚焦和对比度优化技术提供准确的图像捕获,以确保准确的缺陷本地化。SEMILAB/SDI FAaSt 350设备还设计用于高吞吐量操作,其自动样品处理功能允许每小时最多检查30个晶圆。它的自动晶片对准模块可以方便地容纳各种各样的晶片尺寸和厚度，从而使晶片与晶片的对准变得快速和容易。一旦对齐，系统就能够产生详细的定量结果，从而对缺陷检测有更大的信心。最后，SDI FAaSt 350掩模和晶片检测仪是一种先进的自动化机器，专门设计用于半导体集成电路生产过程中的掩模和晶片检测仪。其高分辨率的成像能力、直观的GUI和先进的成像算法提供了高度准确可靠的缺陷检测，而其吞吐量能力和自动化的样品处理使其成为制造样品高速检测的理想选择。