二手 SEMILAB / SDI WML-1 #293642359 待售

SEMILAB/SDI WML-1是一种用于识别和检测半导体芯片生产缺陷的掩模和晶圆检测设备。该系统能够检测面罩和晶片级的各种缺陷，具有极好的准确性和可重复性。SDI WML-1由多个组件组成,包括光学控制台、步进器、光敏剥离器和激光阵列发生器。光学控制台设计用于检测光掩模中的缺陷，而步进器则用于检测晶片中的缺陷。光致抗蚀剂剥离器有助于从光掩模中去除不需要的材料，从而使底层缺陷易于识别。激光模式发生器可用于生成光掩模和晶圆的定制设计模式。SEMILAB WML-1的主要特点之一是其自动缺陷检测单元。它能够快速准确地检测光掩模和晶片中最小的缺陷,从而无需手动检查。机器还能够检测到许多不同类型的缺陷，包括污染物、粗糙度和断线。WML-1还提供了一个独特的数据分析工具，可以对缺陷检测结果进行详细分析。其强大的图像分析软件用于准确识别和分类不同类型的缺陷，为优化生产过程提供了宝贵的数据。总体而言，SEMILAB/SDI WML-1是一种功能强大、可靠的掩模和晶圆检测资产，旨在识别和检测半导体芯片生产中的缺陷。它结合了自动缺陷检测和强大的图像分析软件，使其成为任何半导体芯片生产设施的重要工具。