二手 SEMILAB / SDI WT-2010D #9267612 待售

SEMILAB/SDI WT-2010D掩模和晶片检查设备是一种高精度成像系统,旨在在集成电路掩模和晶片中提供完整、可重复的成像和特征大小的数据收集。该设备的设计目的是快速、轻松地检查这些材料是否有任何异常或缺陷。SDI WT-2010D由灵活的X-Y扫描级和功能强大的光学机器组成,这两者可以协同工作,对掩模和晶圆表面上的小规模特征进行快速、准确的成像。扫描阶段由高效的X-Y微型扫描仪驱动，它可以在X和Y方向上以精确的增量步骤移动阶段。电动驱动器在扫描和图像捕获过程中确保平稳、准确的运动。SEMILAB WT-2010D光学工具利用了完全可定制的三视资产。这款机型由三个独立的高分辨率镜头组成--每个镜头都有自己的有限调节能力，允许用户精确调整镜头的放大倍率、视场和数值光圈。这些镜头提供清晰、详细的图像,即使是最小的特征也显得清晰清晰。WT-2010D设备还包括先进的成像系统。150万像素的CCD相机和成像板能够记录多达10,000像素/秒。这使设备能够以极其精细的细节捕捉小规模特征的详细图像。然后通过自动全步骤特征检查工具处理从成像机中收集的数据。此资产处理并分析可能存在的任何异常、缺陷或畸形的图像。此型号的输出提供了在21英寸液晶液晶显示器上可看到的样本的实时快照。为了确保从设备收集到的数据一致和准确,SEMILAB/SDI WT-2010D系统包括一整套功能强大的软件。该软件包括图像和数据比较工具、统计和图形工具、自动处理功能以及分析实用程序。所有这些组件使用户能够快速轻松地识别样品材料中的任何缺陷或差异。总之，SDI WT-2010D装置是一种易于使用、精确度高的成像机，专门设计用于高效的掩模和晶片检查。SEMILAB WT-2010D模型及其X-Y扫描阶段、三光光学工具、强大的成像资产和全面的软件套件,为检查和分析这些材料的小规模特征提供了全面的手段。