二手 SEMITEST Epimet II #293646413 待售

製造商
SEMITEST
模型
Epimet II
ID: 293646413
优质的: 2001
Inspection system 2001 vintage.
SEMITEST Epimet II是半导体工业的掩模和晶圆检验设备。它提供各种晶片和薄膜的自动化检查、质量检查和计量。该系统旨在优化产品的精度和质量。该设备利用先进的扫描电子显微镜(SEM)技术对晶片和薄膜进行高分辨率的检测和质量控制。它设计用于检查薄到几微米的材料。Epimet II配备了一系列先进的探测器,包括反向散射探测器、二次电子探测器和微焦点X射线探测器,可实现最大分辨率。该机集成了先进的定位和样品操作能力,使用户能够准确查看、测量和检查晶片和薄膜的特征。集成级可实现快速、准确的样品定位,同时提供充足的工作负载能力。SEMITEST Epimet II还融合了先进的数字图像处理算法广泛的图像分析功能。这使用户能够使用实时、数字捕获和显示功能轻松识别和测量缺陷和异常。该工具还包括便于用户使用的软件工具,这些工具能够检查整个晶圆表面,并使用户能够最大程度地准确地识别、分类和测量缺陷。该资产还提供了用于过程控制、质量测试和计量任务的功能。集成的计量功能使用户能够准确测量晶圆厚度、表面地形以及其他相关信息。此外,该模型能够精确测量三维特征,并能够获取聚焦离子束的图像。此外,Epimet II提供多种诊断和测试,包括泄漏电流、掩模检查和分析、模具尺寸验证、应力测量、电气测试模式、扫描速度测量等等。这些测试确保了产品的一致性和质量,并有助于简化开发和制造过程。总体而言,SEMITEST Epimet II是一种先进的晶圆和薄膜检测设备,旨在最大限度地提高准确性、质量和生产率。Epimet II凭借其先进的探测器、定位和样品处理能力、数字图像处理以及集成的计量功能,为半导体行业提供了强大的解决方桉。
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