二手 SEMITEST Epimet II #9105435 待售

SEMITEST Epimet II是一种用于对所有类型的光刻图样进行多层次分析的掩模和晶圆检测设备。该系统包括高级光学配置选项,并提供高分辨率成像和算法特征识别。Epimet II的主要成分是光学显微镜和一个控制单元。光学显微镜使用激光照明捕获图样的图像，并以数字格式收集。该单元提供的物镜允许不同的放大倍数，以更高的细节来评估图样。控制单元用于分析图样图像。它包含高速处理、高级算法识别功能，能够提供实时分析。控制单元可用于将图样与参考图像进行比较，测量线宽和线间间距等特征，检测缺陷，识别潜在屈服问题。除了图像分析，SEMITEST Epimet II可以用于自动晶圆测试。该机可配备接触和非接触传感器，如光谱椭圆偏光计，以测量晶圆的电学和光学特性。这允许在生产过程中进行测试,以便在完成之前发现任何潜在的问题。Epimet II提供了准确、快速、可靠的掩模和晶圆检测工具。它提供了一个高度自动化的过程来检测潜在的缺陷和产生问题的模式晶片。该资产允许对图样样本进行多层次分析,并提供有关样本特征和属性的详细反馈,以便进行准确评估。