二手 SII NANOTECHNOLOGY / SEIKO Xvision #9383149 待售

ID: 9383149
优质的: 2011
Defect inspection system 2011 vintage.
SII NANOTECHNOLOGY/SEIKO Xvision是一款领先的掩模和晶圆审查设备,专为高性能集成电路(IC)的高容量生产而设计。它使用先进的成像技术、软件控制和精密机器人技术来自动检查和审查口罩和晶片的过程。这使IC制造商能够通过快速目视检查甚至最小的功能来提高产量和上市时间。SEIKO Xvision是在大批量生产环境中检查和审查口罩和晶片的理想选择,这要归功于其自动化操作的惊人速度和准确性。系统使用高分辨率光学器件,加上精确的机器人技术和先进的软件控制,使其能够精确地检测到即使是最小的特征尺寸和蒙版或晶片上的公差。为确保准确性,SII NANOTECHNOLOGY XVISION利用用户界面中内置的复杂算法和功能。用户可以通过从各种协同工作的算法中进行选择,以提供对掩码和晶圆信息的独特见解,从而自定义单元以满足其各自的需求。例如,可以对机器进行编程,以识别和突出掩码或晶圆图样中的细微特征,这些特征可以通过常规的检查方法轻松地遗漏。该工具还具有一系列高级功能,旨在确保可靠的操作和最高的准确性。例如,Xvision支持使用实时数据来纠正掩码或晶圆上的错误。此外,该资产还提供了一系列先进的自动化和规划工具,可用于最大化检查速度,减少审查完整晶圆所需的总时间。此外,SII NANOTECHNOLOGY/SEIKO Xvision还配备了增强的安全模型,以确保在任何环境下运行都是安全的。该设备包括一系列传感器,用于检测任何意外事件,如振动或功率的突然变化,并激活立即关机机制。SEIKO Xvision是一个创新的、用途广泛的掩模和晶圆评审系统,为IC制造商提供了一个可靠而高效的解决方桉来满足他们的大批量检测要求。凭借先进的光学、机器人技术、算法和自动化功能,该设备能够精确检测和排除掩模或晶片上的最小缺陷,从而实现成功的IC生产过程。
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