二手 SLD FGN-20 #9201063 待售

SLD FGN-20是一种全自动掩模和晶圆检测设备，旨在为半导体领域提供卓越的精度和可靠性。该系统采用先进的光学成像和算法，能够检测到0.1 μ m-0.5 μ m的缺陷。它的SLD型技术能够检测不同类型的样品，如小触点、盲孔和低K电介质。FGN-20采用高分辨率CCD相机，灵敏度足以检测组合伪焦镜头组的最小缺陷和其他特性。它使用强大的图像处理软件进行处理,以便从手动选择的操作中检查和识别每一个缺陷。该单元的High-Dynamic Range （HDR）甚至可以识别出最困难的缺陷，使其适合广泛的使用应用。机器的TAP虚拟检查工具设计用于检查图桉化布局层，还提供高灵敏度激光图样检查。它使用了多种高级图像分析算法。该工具具有很高的准确性和可重复性,确保每个被检查的样品都符合最高标准,每次都能提供可靠的结果。SLD FGN-20还提供了报告和数据管理功能,例如缺陷列表、3D测量以及其他可用于各种应用程序的报告。它还提供在线测量,包括实时视图样本检查和全自动SAM审查（FASR）,从而能够自动测量所有关键缺陷。该资产设计方便用户，便于操作和维护，不影响测量精度。它还包括用于定制需求的特定功能以及用于样品和设备的专用或专用区域。高性能数据分析模型对每个样本执行分析,并自动警告发现的任何缺陷。总体而言，FGN-20是一个可靠和准确的设备，用于检查口罩和晶片。其先进的光学成像技术、图像处理软件和各种功能使其适合任何类型的应用。它易于操作和维护,并提供各种报告和数据管理功能。