二手 SOLVES NIL-157045-A #293590534 待售

SOLVES NIL-157045-A是一种自动掩模和晶片检查设备，旨在快速检测晶片的掩模和平面上的缺陷。它使用实时图像采集、图像分析和3D分析技术来检测高分辨率的宏和微观缺陷。该系统具有集成的全屏观景台,具有先进的触摸屏监视器和用户界面,使操作员能够轻松查找缺陷以进行审查和进一步鉴定。该单元还具有自动3D扫描仪,可提供快速、自动化的测量和缺陷评估,而无需手动聚焦或手动定向。最先进的成像机采用高分辨率线扫描相机、超高灵敏度光源和高度精确的线性舞台，为每一个掩模和晶圆打造高清图像。这些图像经过处理、过滤，然后经过复杂的计算机辅助检查和测量（CAI）算法，以检测微妙的缺陷，即使分辨率很低。该工具还包括高级纠错以减少误报，以及属性控制和缺陷拒绝过程以防止被拒绝的缺陷进入制造过程。这有助于确保产品质量和可靠性,同时减少对废物、返工和报废的需求。资产还配备了一系列先进的工具和检查算法，以及缺陷分类库，以进一步加强缺陷审查和定性。这些工具提供了每个缺陷的详细信息,并实现了快速、准确的校正或分类。这有助于确保产品质量、降低制造成本和最大限度地提高产品产量。NIL-157045-A是一个强大的模型,旨在快速可靠地检测口罩和晶片表面的缺陷,同时降低制造成本。该设备可实现更快的检测、更准确的缺陷识别和表征、更高效的缺陷研究和纠正,以及提高产品产量。