二手 TAIWAN WOS2000 #9177890 待售

TAIWAN WOS2000是一种用于半导体晶片光学和电气特性筛选的自动掩模和晶片检测设备。它为关键缺陷的筛选测试和分析以及模具的机械应力和温度诱导测试提供了集成的解决方桉。WOS2000提供了具有先进缺陷检测和自动故障分析功能的全自动图像采集和图像处理系统。该单元以低至0.5um的分辨率检测晶片上的视觉和电子可见缺陷,并且比手动检查具有更高的准确性和可重复性。它包括用于捕捉图像的高质量摄像机、高精度舞台机和用于精确对准的高级光学设置。该工具还配备了精确的控制和测量模块，用于运动和旋转级的驱动和控制、热测量、光源等。为了进行缺陷分析,可以对各种缺陷进行编程检测,如边缘缺陷、缺失和过大特征、线路故障、晶界缺陷和热诱导缺陷。利用"环境缝合空间"技术也可用于故障自动分析。此外，TAIWAN WOS2000包括特殊的工具和配件，例如电气参数测量模块，可以直接检查和关联设备的电气性能以及视觉和印刷缺陷。资产的电气测量能力还可以优化被测模型（SUT）性能,从而消除昂贵且耗时的手动性能测试。此外,它在产品的整个生命周期中提供完整的客户服务和支持,并对服务需求做出高效、快速的响应。它还提供了多种支持软件的应用程序和功能,如自动图像处理和缺陷分析、SPC分析、热成像、缺陷分类、过程监视和数据分析。综上所述，WOS2000提供了具有先进光学和电气特性筛选、缺陷分析功能、精确控制和测量能力、过程监测和数据分析特征的综合自动化晶圆检测设备。它旨在在提高晶圆产品质量的同时节省时间和成本。