二手 TAYLOR HOBSON CCI MP-HS #293654291 待售

TAYLOR HOBSON CCI MP-HS是一种口罩和晶片检验设备，设计用于提供不透明和半透明的口罩、晶片和网状涂层的高分辨率检验。这种掩模和晶圆检验系统可以同时用于生产和开发/研发应用。它是一个自动化单元,与强大可靠的成像技术和先进的软件集成在一起。这台机器能够以最高的效率捕捉高清图像。CCI MP-HS对不透明的口罩提供5µm的检测分辨率，对10,000：1的高动态范围的薄膜堆栈提供40nm的检测分辨率。该工具提供可编程的焦点，可以根据要收集的证据进行调整。它还提供高达1,000晶圆/小时的高速检查,并且可以执行标准表面和3D物理缺陷检查,以及参数和映射分析。TAYLOR HOBSON CCI MP-HS与几种不同类型的材料兼容，包括Si、SiGe和III-V材料，以及氧化物、氮化物、聚合物和Cu金属化层。此外,资产还能够检测微缺陷和透明度问题,这有助于提高产量、优化产品性能和降低成本。CCI MP-HS拥有一项专利的堆迭照明技术,可以对复杂样品进行质量表面检查,从轻薄膜到多角结构的晶片。而且，模型的照明透镜使用户能够根据样品的具体要求量身定制照明，提供更高的分辨率、对比度和对焦深度。除了便携式设计外，该设备还集成了各种软件包，如OTF Autofocus和Edge Trace，提供自动化和手动的样本对齐，使其在保持高精度的同时减少人工干预。该软件还提供了低误报率和强大的软件分析能力，在各种各样的样品条件和材料上提供了高质量的检验结果。总体而言，TAYLOR HOBSON CCI MP-HS提供高分辨率成像和强大的软件分析工具，以确保掩模和晶圆检查的质量和准确性。该系统是集成生产线的理想解决方桉,可提供自动化、高效和经济高效的掩模和晶片检查。