二手 TAYLOR HOBSON PGI 840 #9397839 待售

TAYLOR HOBSON PGI 840是一种先进的自动化掩模和晶片检测设备，设计用于检测半导体晶片和掩模上的缺陷。该系统能够检查直径达200毫米的晶片和尺寸达8英寸的掩模。PGI 840有一个全自动的控制单元和定制的软件包，旨在确保检查过程的准确性和可靠性。它有几种检查模式和各种设置，可以定制以满足特定的客户要求。该机器利用强大的透镜工具检查晶片和掩模是否有缺陷。镜片资产可以检测到尺寸低至0.1微米的缺陷。然后将晶片和掩模图像传输到大型图像监视器,在此可以对其进行查看和分析。TAYLOR HOBSON PGI 840还具有强大的缺陷分类模型，能够准确分类缺陷类型和大小。此功能允许更高效、更准确的检查过程。该设备还具有一个广泛的缺陷类型和大小数据库，可用于帮助检测和分析缺陷。该数据库还可用于开发实验，并对特定过程和程序的指令进行标准化。除了检查能力外，PGI 840还提供多种分析功能。该系统能够进行间隙测量和模界扫描，检测均匀性缺陷，分析缺陷分布。TAYLOR HOBSON PGI 840是一个高度先进的掩模和晶圆检验单元，旨在在检验过程中提供高精度和可靠性。其广泛的特性和功能使其成为寻找自动检测机器的半导体公司的理想选择。